半導體產業 實例應用

晶圓檢測

一、概述:

      針對晶圓取到的圖像，比對其所選區域位置和原圖是否相同。

二、程式介面:

      針對晶圓的圖形設定要檢查的區塊，沒有設定時為整張圖都要檢查。

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